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一、高溫試驗(yàn)

   80±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無(wú)變形、翹曲、脫膠等異?，F(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。

二、 低溫試驗(yàn)

   -30±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無(wú)變形、翹曲、脫膠等異?，F(xiàn)象。

 三、 溫度循環(huán)試驗(yàn)

   在70±2℃的環(huán)境中放置30分鐘,取出在常溫下放置5分鐘；在-20±2℃環(huán)境中放置30分鐘,取出在常溫下放置5分鐘。經(jīng)過(guò)如此5個(gè)循環(huán)后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無(wú)變形、翹曲、脫膠等異?，F(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。

 四、耐溫?zé)?/span>

 在溫度40±2℃,相對(duì)濕度93±2%rh的環(huán)境中放置48h,取出在常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無(wú)變形、翹曲、脫膠等異?，F(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。